Qualcomm

Snapdragon 8 Gen 3 Mobile Firmware

82 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:11

Memory corruption while processing IOCTL from user space to handle GPU AHB bus error.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:09

Memory corruption in Camera due to unusually high number of nodes passed to AXI port.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:23

Memory corruption can occur when a compat IOCTL call is followed by a normal IOCTL call from userspace.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:56

Memory corruption while validating number of devices in Camera kernel .

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:46

Memory corruption may occour occur when stopping the WLAN interface after processing a WMI command from the interface.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:55:49

Memory corruption while parsing the ML IE due to invalid frame content.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:18
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:56:27

Memory corruption while configuring a Hypervisor based input virtual device.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:58:37

Memory corruption while processing frame packets.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:58:47

Memory corruption while invoking IOCTL calls from user-space to kernel-space to handle session errors.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while registering a buffer from user-space to kernel-space using IOCTL calls.