Qualcomm

Snapdragon 8 Gen 3 Mobile Firmware

82 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:22
  • Zuletzt bearbeitet 09.05.2025 19:11:07

Memory corruption during the FRS UDS generation process.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:21
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while triggering commands in the PlayReady Trusted application.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:19
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption during memory mapping into protected VM address space due to incorrect API restrictions.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:18
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption during memory assignment to headless peripheral VM due to incorrect error code handling.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:17
  • Zuletzt bearbeitet 09.05.2025 19:11:34

Memory corruption while reading secure file.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:13
  • Zuletzt bearbeitet 09.05.2025 19:12:25

Memory corruption while handling multiple IOCTL calls from userspace to operate DMA operations.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:02

Memory corruption while power-up or power-down sequence of the camera sensor.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:01

Memory corruption can occur in the camera when an invalid CID is used.

  • EPSS 0.13%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:40

Information disclosure while parsing the OCI IE with invalid length.

  • EPSS 0.19%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption during management frame processing due to mismatch in T2LM info element.