Qualcomm

Qcn9012 Firmware

326 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.52%
  • Veröffentlicht 05.08.2024 15:15:48
  • Zuletzt bearbeitet 26.11.2024 16:48:40

Transient DOS while parsing the MBSSID IE from the beacons, when the MBSSID IE length is zero.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 05.08.2024 15:15:47
  • Zuletzt bearbeitet 25.11.2024 13:28:29

Transient DOS while importing a PKCS#8-encoded RSA key with zero bytes modulus.

  • EPSS 0.2%
  • Veröffentlicht 05.08.2024 15:15:46
  • Zuletzt bearbeitet 26.11.2024 15:32:38

Memory corruption when keymaster operation imports a shared key.

  • EPSS 0.18%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:57:39

Memory corruption when IOMMU unmap operation fails, the DMA and anon buffers are getting released.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:15
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:54:28

Memory corruption when an invoke call and a TEE call are bound for the same trusted application.

  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:15
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:57:37

Memory corruption when allocating and accessing an entry in an SMEM partition.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:54:25

Memory corruption while performing finish HMAC operation when context is freed by keymaster.

  • EPSS 0.08%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:54:26

Transient DOS while loading the TA ELF file.

  • EPSS 0.13%
  • Veröffentlicht 01.07.2024 15:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 08:54:27

Memory corruption while processing key blob passed by the user.

  • EPSS 0.23%
  • Veröffentlicht 03.06.2024 10:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 09.01.2025 21:22:19

Transient DOS while processing an improperly formatted Fine Time Measurement (FTM) management frame.