Qualcomm

Qcn9012 Firmware

326 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:15
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while calling the NPU driver APIs concurrently.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption may occur while validating ports and channels in Audio driver.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption in display driver while detaching a device.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Information disclosure while deriving keys for a session for any Widevine use case.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while processing command in Glink linux.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:02

Memory corruption while power-up or power-down sequence of the camera sensor.

  • EPSS 0.19%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption during management frame processing due to mismatch in T2LM info element.

  • EPSS 0.25%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:55:49

Memory corruption while parsing the ML IE due to invalid frame content.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:46

Memory corruption may occour occur when stopping the WLAN interface after processing a WMI command from the interface.

  • EPSS 0.19%
  • Veröffentlicht 06.01.2025 11:15:10
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS can occur when the driver parses the per STA profile IE and tries to access the EXTN element ID without checking the IE length.