Qualcomm

Wcd9335 Firmware

629 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:15
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while calling the NPU driver APIs concurrently.

  • EPSS 0.28%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS may occur while processing the country IE.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption may occur while validating ports and channels in Audio driver.

  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption may occur while accessing a variable during extended back to back tests.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption in display driver while detaching a device.

  • EPSS 0.25%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

While processing the authentication message in UE, improper authentication may lead to information disclosure.

  • EPSS 0.1%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Information disclosure while deriving keys for a session for any Widevine use case.

  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:02

Memory corruption while power-up or power-down sequence of the camera sensor.

  • EPSS 0.26%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:40

Information disclosure while parsing the OCI IE with invalid length.

  • EPSS 0.1%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:23

Memory corruption can occur when a compat IOCTL call is followed by a normal IOCTL call from userspace.