Qualcomm

Snapdragon 6 Gen 3 Mobile Firmware

5 Schwachstellen gefunden.

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  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 04.05.2026 16:43:13
  • Zuletzt bearbeitet 06.05.2026 18:02:38

Memory corruption while creating a process on the digital signal processor due to allocation failure at the kernel level.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 04.05.2026 16:43:08
  • Zuletzt bearbeitet 06.05.2026 18:03:46

Transient DOS when processing a malformed Fast Transition response frame with an invalid header structure during wireless roaming.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 04.05.2026 16:43:07
  • Zuletzt bearbeitet 06.05.2026 18:03:53

Transient DOS when processing target power rate tables during channel configuration.

  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 02.02.2026 16:16:19
  • Zuletzt bearbeitet 11.02.2026 19:35:47

Memory Corruption when initiating GPU memory mapping using scatter-gather lists due to unchecked IOMMU mapping errors.

  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 02.02.2026 16:16:19
  • Zuletzt bearbeitet 11.02.2026 19:35:55

Memory Corruption while deallocating graphics processing unit memory buffers due to improper handling of memory pointers.