Qualcomm

S5 Gen 2 Sound Platform Firmware

4 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
6.5

CVE-2025-47370

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 04.11.2025 03:19:26
  • Zuletzt bearbeitet 05.11.2025 17:16:27

Transient DOS when a remote device sends an invalid connection request during BT connectable LE scan.

7.1

CVE-2025-47342

  • EPSS 0.05%
  • Veröffentlicht 09.10.2025 03:18:10
  • Zuletzt bearbeitet 21.10.2025 16:40:54

Transient DOS may occur when multi-profile concurrency arises with QHS enabled.

7.5

CVE-2025-47318

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 24.09.2025 16:15:37
  • Zuletzt bearbeitet 28.11.2025 16:14:16

Transient DOS while parsing the EPTM test control message to get the test pattern.

7.8

CVE-2025-47317

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 24.09.2025 16:15:36
  • Zuletzt bearbeitet 25.09.2025 16:04:08

Memory corruption due to global buffer overflow when a test command uses an invalid payload type.