Qualcomm

Snapdragon 480 5g Mobile Firmware

49 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:48:52
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS when importing a PKCS#8-encoded RSA private key with a zero-sized modulus.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:48:50
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while retrieving the CBOR data from TA.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:48:49
  • Zuletzt bearbeitet 11.02.2026 14:29:52

Information disclosure while decoding this RTP packet Payload when UE receives the RTP packet from the network.

  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:48:46
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Cryptographic issue while processing crypto API calls, missing checks may lead to corrupted key usage or IV reuses.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:32
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while reading response from FW, when buffer size is changed by FW while driver is using this size to write null character at the end of buffer.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:26
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while processing a data structure, when an iterator is accessed after it has been removed, potential failures occur.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:32:17
  • Zuletzt bearbeitet 09.05.2025 19:11:34

Memory corruption while reading secure file.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:11

Memory corruption while processing IOCTL from user space to handle GPU AHB bus error.

  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:40

Information disclosure while parsing the OCI IE with invalid length.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:02

Memory corruption while power-up or power-down sequence of the camera sensor.