Qualcomm

Snapdragon 8+ Gen 2 Mobile Firmware

18 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:40

Information disclosure while parsing the OCI IE with invalid length.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:02:02

Memory corruption while power-up or power-down sequence of the camera sensor.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:20
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:01

Memory corruption can occur in the camera when an invalid CID is used.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:23

Memory corruption can occur when a compat IOCTL call is followed by a normal IOCTL call from userspace.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:56

Memory corruption while validating number of devices in Camera kernel .

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:55:49

Memory corruption while parsing the ML IE due to invalid frame content.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 06.01.2025 11:15:08
  • Zuletzt bearbeitet 10.01.2025 16:53:02

Memory corruption while processing frame command IOCTL calls.

  • EPSS 0.23%
  • Veröffentlicht 03.06.2024 10:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 09.01.2025 21:22:19

Transient DOS while processing an improperly formatted Fine Time Measurement (FTM) management frame.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.06.2024 10:15:09
  • Zuletzt bearbeitet 27.01.2025 19:34:53

Memory corruption in TZ Secure OS while Tunnel Invoke Manager initialization.

  • EPSS 0.29%
  • Veröffentlicht 06.05.2024 15:15:22
  • Zuletzt bearbeitet 15.01.2025 17:00:29

Transient DOS while parsing a protected 802.11az Fine Time Measurement (FTM) frame.