Qualcomm

Snapdragon 8 Gen 3 Firmware

15 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.26%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while parsing MBSSID during new IE generation in beacon/probe frame when IE length check is either missing or improper.

  • EPSS 0.17%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while processing TIM IE from beacon frame as there is no check for IE length.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while passing untrusted/corrupted pointers from DSP to EVA.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when Alternative Frequency offset value is set to 255.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when BTFM client sends new messages over Slimbus to ADSP.