Qualcomm

Snapdragon 429 Firmware

23 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.1%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS may occur while processing the country IE.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption in display driver while detaching a device.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption may occur while validating ports and channels in Audio driver.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption may occur during the synchronization of the camera`s frame processing pipeline.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption while handling multuple IOCTL calls from userspace for remote invocation.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption caused by missing locks and checks on the DMA fence and improper synchronization.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption during voice activation, when sound model parameters are loaded from HLOS, and the received sound model list is empty in HLOS drive.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption during voice activation, when sound model parameters are loaded from HLOS to ADSP.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption while invoking IOCTL calls from the use-space for HGSL memory node.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 03.03.2025 11:15:11

Memory corruption while processing camera use case IOCTL call.