Qualcomm

Snapdragon 4 Gen 1 Firmware

47 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:15
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while calling the NPU driver APIs concurrently.

  • EPSS 0.1%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS may occur while processing the country IE.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption in display driver while detaching a device.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:13
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption may occur while validating ports and channels in Audio driver.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Information disclosure while deriving keys for a session for any Widevine use case.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

While processing the authentication message in UE, improper authentication may lead to information disclosure.

  • EPSS 0.17%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while processing TIM IE from beacon frame as there is no check for IE length.

  • EPSS 0.26%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while parsing MBSSID during new IE generation in beacon/probe frame when IE length check is either missing or improper.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when BTFM client sends new messages over Slimbus to ADSP.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when Alternative Frequency offset value is set to 255.