Qualcomm

Sg8275 Firmware

5 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 24.09.2025 16:15:37
  • Zuletzt bearbeitet 28.11.2025 16:14:16

Transient DOS while parsing the EPTM test control message to get the test pattern.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 24.09.2025 16:15:33
  • Zuletzt bearbeitet 25.09.2025 16:08:48

Memory corruption when passing parameters to the Trusted Virtual Machine during the handshake.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 04.11.2024 10:15:06
  • Zuletzt bearbeitet 07.11.2024 19:39:24

Memory corruption while processing IOCTL calls to unmap the buffers.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 04.11.2024 10:15:04
  • Zuletzt bearbeitet 07.11.2024 19:59:06

Memory corruption while invoking IOCTL command from user-space, when a user modifies the original packet size of the command after system properties have been already sent to the EVA driver.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 19.10.2022 11:15:10
  • Zuletzt bearbeitet 13.05.2025 20:15:20

Memory corruption in BTHOST due to double free while music playback and calls over bluetooth headset in Snapdragon Mobile