Qualcomm

Wcd9380 Firmware

1042 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 06.05.2025 08:31:53
  • Zuletzt bearbeitet 09.05.2025 19:17:01

Memory corruption during concurrent SSR execution due to race condition on the global maps list.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:15
  • Zuletzt bearbeitet 06.10.2025 19:54:09

Transient DOS may occur while parsing SSID in action frames.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:13
  • Zuletzt bearbeitet 20.08.2025 21:19:47

Memory corruption may occur while processing device IO control call for session control.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:10
  • Zuletzt bearbeitet 20.08.2025 20:19:23

Memory corruption when IOCTL call is invoked from user-space to write board data to WLAN driver.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:08
  • Zuletzt bearbeitet 20.08.2025 20:01:33

Memory corruption when IOCTL call is invoked from user-space to write board data to WLAN driver.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:07
  • Zuletzt bearbeitet 06.10.2025 19:53:10

Memory corruption may occur while reading board data via IOCTL call when the WLAN driver copies the content to the provided output buffer.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:06
  • Zuletzt bearbeitet 03.10.2025 18:35:37

Memory corruption while IOCTL call is invoked from user-space to read board data.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:03
  • Zuletzt bearbeitet 20.08.2025 21:13:08

Memory corruption may occur while initiating two IOCTL calls simultaneously to create processes from two different threads.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:02
  • Zuletzt bearbeitet 06.10.2025 19:52:56

Transient DOS may occur while parsing extended IE in beacon.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 07.04.2025 10:16:00
  • Zuletzt bearbeitet 06.10.2025 19:52:46

Transient DOS may occur while parsing EHT operation IE or EHT capability IE.