Qualcomm

Snapdragon 7c Gen 2 Compute Platform Firmware

35 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 02.03.2026 16:53:52
  • Zuletzt bearbeitet 04.03.2026 19:06:44

Weak configuration may lead to cryptographic issue when a VoWiFi call is triggered from UE.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 02.03.2026 16:53:43
  • Zuletzt bearbeitet 04.03.2026 19:14:11

Transient DOS when an LTE RLC packet with invalid TB is received by UE.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 06.01.2025 11:15:09
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when IOCTL call is invoked from user-space to write board data to WLAN driver.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 06.01.2025 11:15:09
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when IOCTL call is invoked from user-space to read board data.

  • EPSS 0.07%
  • Veröffentlicht 02.12.2024 11:15:08
  • Zuletzt bearbeitet 12.12.2024 15:25:15

Memory corruption when allocating and accessing an entry in an SMEM partition continuously.

  • EPSS 0.01%
  • Veröffentlicht 02.12.2024 11:15:08
  • Zuletzt bearbeitet 12.12.2024 15:23:26

Memory corruption while Configuring the SMR/S2CR register in Bypass mode.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 01.04.2024 15:15:49
  • Zuletzt bearbeitet 13.01.2025 21:54:33

Memory corruption while allocating memory for graphics.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 06.02.2024 06:16:03
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while parse fils IE with length equal to 1.

  • EPSS 0.12%
  • Veröffentlicht 06.02.2024 06:16:02
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS in WLAN Firmware when the length of received beacon is less than length of ieee802.11 beacon frame.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 06.02.2024 06:16:02
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while key unwrapping process, when the given encrypted key is empty or NULL.