Qualcomm

315 5g Iot Firmware

12 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:49:21
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption whhile handling the subsystem failure memory during the parsing of video packets received from the video firmware.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 08.07.2025 12:48:58
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS may occur while processing malformed length field in SSID IEs.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

While processing the authentication message in UE, improper authentication may lead to information disclosure.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:18
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when two threads try to map and unmap a single node simultaneously.

  • EPSS 0.17%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while processing TIM IE from beacon frame as there is no check for IE length.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 01.04.2024 15:15:46
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption in SPS Application while requesting for public key in sorter TA.

  • EPSS 0.06%
  • Veröffentlicht 01.04.2024 15:15:46
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while processing finish_sign command to pass a rsp buffer.

  • EPSS 0.05%
  • Veröffentlicht 05.09.2023 07:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 07:55:31

Memory corruption in WLAN HAL while handling command through WMI interfaces.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 05.09.2023 07:15:14
  • Zuletzt bearbeitet 21.11.2024 07:55:33

Memory corruption in WLAN HAL while parsing WMI command parameters.

  • EPSS 0.05%
  • Veröffentlicht 04.07.2023 05:15:10
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Arbitrary memory overwrite when VM gets compromised in TX write leading to Memory Corruption.