Qualcomm

Snapdragon 8 Gen 1 Firmware

44 Schwachstellen gefunden.

Hinweis: Diese Liste kann unvollständig sein. Daten werden ohne Gewähr im Ursprungsformat bereitgestellt.
  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:12
  • Zuletzt bearbeitet 06.03.2025 16:36:34

Memory corruption caused by missing locks and checks on the DMA fence and improper synchronization.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while processing command in Glink linux.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS during hypervisor virtual I/O operation in a virtual machine.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 03.03.2025 11:15:11

Memory corruption while processing camera use case IOCTL call.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Information disclosure while deriving keys for a session for any Widevine use case.

  • EPSS 0.09%
  • Veröffentlicht 03.03.2025 11:15:11
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

While processing the authentication message in UE, improper authentication may lead to information disclosure.

  • EPSS 0.21%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while processing TIM IE from beacon frame as there is no check for IE length.

  • EPSS 0.29%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Transient DOS while parsing MBSSID during new IE generation in beacon/probe frame when IE length check is either missing or improper.

  • EPSS 0.11%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when BTFM client sends new messages over Slimbus to ADSP.

  • EPSS 0.15%
  • Veröffentlicht 02.09.2024 12:15:16
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption when Alternative Frequency offset value is set to 255.