Qualcomm

Fastconnect 7800 Firmware

516 Schwachstellen gefunden.

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  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:49

Memory corruption may occour while generating test pattern due to negative indexing of display ID.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:56

Memory corruption while validating number of devices in Camera kernel .

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:23

Memory corruption can occur when a compat IOCTL call is followed by a normal IOCTL call from userspace.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:19
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 16:01:09

Memory corruption in Camera due to unusually high number of nodes passed to AXI port.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:18
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:56:27

Memory corruption while configuring a Hypervisor based input virtual device.

  • EPSS 0.02%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:18
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:56:20

Memory corruption while taking a snapshot with hardware encoder due to unvalidated userspace buffer.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:18
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:55:59

Memory corruption while handling IOCTL call from user-space to set latency level.

  • EPSS 0.04%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 11.08.2025 15:06:17

Memory corruption while registering a buffer from user-space to kernel-space using IOCTL calls.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:58:47

Memory corruption while invoking IOCTL calls from user-space to kernel-space to handle session errors.

  • EPSS 0.03%
  • Veröffentlicht 03.02.2025 17:15:17
  • Zuletzt bearbeitet 05.02.2025 13:58:37

Memory corruption while processing frame packets.